二極管的反向恢復(fù)是什么
IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）的續(xù)流二極管（Free-Wheeling Diode，F(xiàn)RD）是一個(gè)關(guān)鍵組件，對(duì)整個(gè)模塊的性能有著顯著影響。今天，我們來(lái)深入探討一下這個(gè)有趣的元件。
IGBT（絕緣柵雙極型晶體管）的續(xù)流二極管（Free-Wheeling Diode，F(xiàn)RD）是一個(gè)關(guān)鍵組件，對(duì)整個(gè)模塊的性能有著顯著影響。今天，我們來(lái)深入探討一下這個(gè)有趣的元件。
一、FRD的反向恢復(fù)特性
FRD通常使用快恢復(fù)二極管（Fast Recovery Diode），其最重要的特性之一是反向恢復(fù)。這一特性不僅影響二極管本身的損耗和安全工作狀態(tài)，還對(duì)電磁干擾（EMI）特性有著重要影響。
1. 反向恢復(fù)的定義
當(dāng)普通二極管的電流從正向變?yōu)榉聪驎r(shí)，不會(huì)立即截止，而是先反向上升一段時(shí)間（ts），再經(jīng)過下降時(shí)間（tf）接近0。反向恢復(fù)時(shí)間（trr）是ts和tf的總和。
IF：反向截止時(shí)二極管電流的變化過程。
原因：電荷存儲(chǔ)效應(yīng)，存儲(chǔ)電荷耗盡需要的時(shí)間（tff）。
影響：影響開關(guān)頻率，增加反向恢復(fù)損耗。
2. 電荷存儲(chǔ)效應(yīng)
電荷存儲(chǔ)效應(yīng)是指在正偏的PN結(jié)中，P區(qū)的空穴向N區(qū)擴(kuò)散，N區(qū)的電子向P區(qū)擴(kuò)散。這些擴(kuò)散的載流子在反向電壓作用下形成電流，反向恢復(fù)過程實(shí)際上是少子消失的過程。
空穴在N區(qū)是少子，電子在P區(qū)也是少子，因此反向恢復(fù)過程是由少子導(dǎo)電引起的。
二、PIN二極管結(jié)構(gòu)
高壓IGBT模塊中的快恢復(fù)二極管通常是PIN結(jié)構(gòu)的二極管。
1. PIN二極管的定義
PIN二極管是在P型和N型半導(dǎo)體材料之間加入一層低摻雜的本征半導(dǎo)體層，形成的P-I-N結(jié)構(gòu)二極管。常見的結(jié)構(gòu)是P+N-N+，中間的摻雜濃度較低，接近本征半導(dǎo)體。按工藝分為外延和擴(kuò)散兩種。
2. PIN二極管的特性
優(yōu)點(diǎn)：耐壓高，從幾伏到幾千伏。
缺點(diǎn)：存在少子存儲(chǔ)效應(yīng)，反向恢復(fù)時(shí)間長(zhǎng)，正向?qū)▔航递^高。
三、對(duì)FRD的要求
在使用FRD時(shí)，我們通常有以下要求：
反向恢復(fù)要快：降低反向恢復(fù)損耗，提升開關(guān)頻率。理想狀態(tài)是沒有反向恢復(fù)過程。
反向恢復(fù)電流峰值Irrm要低：減少電流尖峰。
恢復(fù)特性要“軟”：指的是反向恢復(fù)電流下降過程中（tf時(shí)間段內(nèi)），電流下降的斜率要小。斜率越大，關(guān)斷越硬，反之越軟。
為什么要求“軟”？
硬關(guān)斷的危險(xiǎn)：雜散電感會(huì)在二極管上疊加電壓尖峰，對(duì)二極管本身比較危險(xiǎn)。
電磁干擾（EMI）：電流下降階段斜率過大會(huì)產(chǎn)生電流震蕩和電磁干擾。
因此，我們追求快恢復(fù)特性和軟關(guān)斷特性。
四、如何優(yōu)化FRD
1. 電子輻射
通過電子輻射的方式減小少子壽命，從而獲得較短的反向恢復(fù)時(shí)間，但會(huì)增加導(dǎo)通壓降。
2. 改進(jìn)N-層結(jié)構(gòu)
通過改進(jìn)N-層結(jié)構(gòu)的方式提高軟回復(fù)特性，但會(huì)犧牲一部分損耗。
3. 特殊二極管
存在一些在PIN基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的特殊二極管，如LLD（低損耗二極管）和SPEED（發(fā)射極注入效率自調(diào)整二極管）等。這些二極管在特定應(yīng)用中表現(xiàn)出更好的性能，但需要根據(jù)具體需求選擇。
五、總結(jié)
IGBT的續(xù)流二極管（FRD）對(duì)模塊的整體性能有著顯著影響。其反向恢復(fù)特性不僅影響損耗和安全工作狀態(tài)，還對(duì)電磁干擾（EMI）特性有著重要影響。在設(shè)計(jì)和使用過程中，我們需要關(guān)注反向恢復(fù)時(shí)間、反向恢復(fù)電流峰值和恢復(fù)特性。通過優(yōu)化設(shè)計(jì)，如電子輻射和改進(jìn)N-層結(jié)構(gòu)，可以改善快恢復(fù)特性和軟關(guān)斷特性，從而提升IGBT模塊的性能和可靠性。
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